华虹nec携手advantest成功开发rfid芯片多同测am8亚美ag旗舰的解决方案-am8亚美

　　世界领先的纯晶圆代工厂之一，上海华虹nec电子有限公司 （以下简称“华虹nec”）与全球专业测试设备供应商爱德万测试（以下简称“advantest”）今日共同宣布，已成功合作开发iso14443协议标准的rfid芯片晶圆级大规模多同测am8亚美ag旗舰的解决方案，并正式进入量产阶段。结合华虹nec在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力，华虹nec与advantest共同开发出的测试方案，能迅速准确地进行rfid反馈识别，其量产测试良率亦得到大客户认可。

　　iso14443协议标准的rfid芯片主要有两种类型，分别是type a与type b，主要区别在于13.56mhz的载波使用不同的调制/解调方式。实际应用中发射端发射13.56mhz的载波，并且把编码信息调制在载波中。rfid芯片本身则通过天线端接收载波信号用于对芯片本身提供电源；同时rfid芯片也在发射端所提供的13.56mhz载波上叠加数据，从而返回数据给发射端形成信息交互。由于rfid芯片本身的特性决定了在进行高同测数测试时，芯片相互间会存在有很大的串扰，影响测试良率，造成量产产能下降。

　　华虹nec和advantest共同开发的测试方案中，充分发挥advantest先进测试系统t2000的技术优势，使用高抗串扰性的测试接口，并且在程序中进行了减小误码率的优化，将串扰引起的误码率降到最低，实现了rfid高同测数的测试需求。此次量产测试中采用的32同测方案是迄今为止业界同类产品的最高同测数测试方案，同时双方已为下一阶段64同测方案做好了技术储备。

　　华虹nec副总裁徐伟先生表示：“华虹nec与advantest有着长期的合作历史。此次通过两个公司测试开发团队的共同努力，利用advantest先进测试系统t2000的技术优势，借助华虹nec在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力，我们成功突破了rfid芯片的量产测试效率瓶颈。这是rfid测试领域的一次重要飞跃，该方案也为大规模量产奠定了基础，铺平了道路。”

　　advantest中国区总经理徐勇先生表示：“半个多世纪以来，advantest都一直致力于为客户提供业界标杆产品和服务。华虹nec是世界领先的晶圆代工厂，同时具有一支高水平的测试团队与完善的测试系统，我们非常乐意向华虹nec提供我们最先进的测试系统和最全面的测试技术服务，支持华虹nec为客户提供全方位的测试am8亚美ag旗舰的解决方案。希望此次与华虹nec合作开发的rfid芯片多同测am8亚美ag旗舰的解决方案，能迅速推广给客户，赢得市场，有效提升rfid测试的生产效率。”

　　通过此次的合作，华虹nec和advantest携手突破了rfid芯片的量产测试效率瓶颈，为客户提供了更具性价比的rfid芯片量产测试am8亚美ag旗舰的解决方案，能帮助客户进一步提升其产品的市场竞争力，并为客户下一代的rfid芯片提供有力的测试am8亚美ag旗舰的技术支持。